通過(guò)這段時(shí)間的了解，相信大家對(duì)超細(xì)碳化硅微粉并不陌生，但是這些內(nèi)容對(duì)于想了解更多這款產(chǎn)品的客戶來(lái)說(shuō)還是不夠的。今天，小編將與大家分享他關(guān)于超細(xì)碳化硅微粉檢測(cè)的知識(shí)，希望能引起大家的關(guān)注。
如果要判斷超細(xì)碳化硅微粉的硬度和切割性，需要進(jìn)行相關(guān)測(cè)試。測(cè)試方法如下：
1.原子吸收這種檢測(cè)方法可以檢測(cè)硅的含量，判斷碳化硅硬度檢測(cè)值相對(duì)準(zhǔn)確。
2.電阻式顆粒分析儀采用電阻式顆粒分析儀測(cè)量碳化硅，的顆粒尺寸，可以有效判斷碳化硅的切削性能，檢測(cè)效率高。
3.顆粒分析儀可以準(zhǔn)確測(cè)量顆粒形狀系數(shù)，是檢測(cè)超細(xì)碳化硅微粉切割效率和質(zhì)量的有效方法。
超細(xì)碳化硅微粉中硅的含量決定其硬度，碳化硅的粒徑大小對(duì)線切割影響很大，但重要的是碳化硅的顆粒形狀。碳化硅是以石油焦和優(yōu)、優(yōu)等硅石為主要原料，添加食鹽作為添加劑，通過(guò)電阻爐高溫冶煉而成。其硬度介于剛玉和金剛石之間，機(jī)械強(qiáng)度高于剛玉。
超細(xì)碳化硅微粉的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，已應(yīng)用于許多化工和切削工程。產(chǎn)品硅含量決定了其硬度。
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